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ES660 靜電放電和閂鎖測(cè)試系統(tǒng)是一款先進(jìn)的多針自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，旨在滿足現(xiàn)代半導(dǎo)體測(cè)試的嚴(yán)格要求。這款多功能設(shè)備旨在無縫支持人體模型 (HBM)、機(jī)器模型 (MM) 和閂鎖測(cè)試，為評(píng)估集成電路 (IC) 和電子元件的可靠性和穩(wěn)健性提供全面的解決方案。 ES660-P1 配置支持多達(dá)1280個(gè)引腳， 非常適合測(cè)試具有大量連接的復(fù)雜 IC 和電子元件。從而縮短測(cè)試時(shí)間并提高生產(chǎn)率。

EM602-10 Mini TEM Cell是一款工作頻段為DC-6GHz范圍的帶狀線TEM小室，能夠外接信號(hào)源產(chǎn)生電磁場(chǎng)，用于測(cè)試IC，無線通信模塊等。外部信號(hào)通過EM601輸入端口進(jìn)行加載，在小室腔體內(nèi)生產(chǎn)一個(gè)均勻、可控的電磁場(chǎng)，進(jìn)行被測(cè)模塊或IC的抗擾度測(cè)試。IC或其他模塊安裝在測(cè)試夾具上放入小室，其產(chǎn)生的輻射場(chǎng)特性也可以通過信號(hào)接收機(jī)連接EM601小室端口進(jìn)行檢測(cè)